Zeiss Evo 10 Rasterelektronenmikroskop

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Zeiss Evo 10 Rasterelektronenmikroskop

Hersteller:  Zeiss  Modell:  Evo 10

Beschreibung:  Klassisches  Rasterelektronenmikskop mit Wolfram-Kathode, angeschlossenes energiedispersives Mikroanalysensystem (Zeiss Smart EDX), mittelgroße Probenkammer, Betrieb mit variablem Druck.

Verwendungszweck:  Untersuchung von Bruchflächen, Funktionsoberflächen, Gefügen bei hoher Vergrößerung. Mikrobereichsanalysen

Technische Daten:

Detektoren: SE, BSE, EDX
Vergrößerungen stufenlos bis ca 300000x
Auflösungsvermögen theor. ca 5 nm
Standardlose Mikroanalyse
Elemente ab Ordnungszahl 5 (Bor)
Auflösung ca 130 eV

Zeiss Sigma 500 VP Rasterelektronenmikroskop

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Zeiss Sigma 500 VP Rasterelektronenmikroskop

Hersteller:  Zeiss  Modell:  Sigma 500 VO

Beschreibung:  Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit Feldemissionsquelle, großer Probenkammer, angeschlossenenm energiedispersivem Mikroanalysensystem (EDAX)

Verwendungszweck:  Untersuchung von Bruchflächen, Funktionsoberflächen, Gefügen bei hoher Vergrößerung. Mikrobereichsanalysen

Technische Daten:

Detektoren: SE, BSE, EDX, EBSD, STEM
Vergrößerungen stufenlos bis ca 1000000x
Auflösungsvermögen theor. ca 0,9 nm
Standardlose Mikroanalyse
Elemente ab Ordnungszahl 5 (Bor)
Auflösung ca 130 eV

Rasterelektronenmikroskop mit EDX

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Rasterelektronenmikroskop mit EDX

Hersteller:  FEI Philips  Modell:  XL 30

Beschreibung:  Klassisches Hochvakuum mit großer Probenkammer, Rasterelektronenmikroskop mit angeschlossenem energiedispersivem Mikroanalysensystem (EDAX)

Verwendungszweck:  Untersuchung von Bruchflächen, Funktionsoberflächen, Gefügen bei hoher Vergrößerung. Mikrobereichsanalysen

Technische Daten:

Detektoren: SE, BSE, EDX
Vergrößerungen stufenlos bis ca 100000x
Auflösungsvermögen theor. ca 5 nm
Standardlose Mikroanalyse
Elemente ab Ordnungszahl 5 (Bor)
Auflösung ca 130 eV

Lichtmikroskop Zeiss Axiomager

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Lichtmikroskop Zeiss Axiomager

Hersteller:  Zeiss  Modell:  AxioImager.M2m

Beschreibung:  Metallmikroskop mit Digitalkamera und angeschlossenem Bildanalysesystem.

Verwendungszweck:  Untersuchung metallographischer Proben, Gefügeuntersuchung, Gefügeanalyse.

Technische Daten:  Vergrößerungen:  Okular 10x / Objektive 1,25x 2,5x 5x 10x 20x 50x,100x

Kontrastierungen:  Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation, Differtial-Interferenzkontrast.

Lichtmikroskop Zeiss Axioplan

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Lichtmikroskop Zeiss Axioplan

Hersteller:  Zeiss  Modell:  Axioplan

Beschreibung:  Metallmikroskop mit Digitalkamera und angeschlossenem Bildanalysesystem.

Verwendungszweck:  Untersuchung metallographischer Proben, Gefügeuntersuchung, Gefügeanalyse.

Technische Daten:  Vergrößerungen:  Okular 10x / Objektive 1,25x 2,5x 10x 20x 50x,100x

Kontrastierungen:  Hellfeld, Dunkelfeld, Differtial-Interferenzkontrast.

Hersteller:  Zeiss  Modell:  Axiolab

Beschreibung:  Auflichtmikroskop mit Digitalkamera.

Verwendungszweck: Untersuchung Schliffproben.

Technische Daten:  Vergrößerungen: Okular 10x / Objektive 5x 10x 20x 50x,100x

Kontrastierungen:  Hellfeld

Lichtmikroskop Zeiss

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Lichtmikroskop Zeiss

Hersteller:  Zeiss 

Beschreibung:  Metallmikroskop in gestürzter Bauweise.

Verwendungszweck:  Untersuchung metallographischer Proben, Gefügeuntersuchung, Gefügeanalyse.

Technische Daten: 
Vergrößerungen: Okular 12,5x / Objektive 4x  8x  16x  40x  80x
Kontrastierungen:  Hellfeld, Dunkelfeld, Interferenzkontrast.

Stereomikroskop Wild

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Stereomikroskop Wild

Hersteller:  Wild  Modell:  M 8

Beschreibung:  Stereomikroskop mit Ringleuchte und Digitalkamera

Verwendungszweck:  Stereomikroskkopische Betrachtung von Oberflächen

Technische Daten:  Vergrößerung stufenlos veränderbar (Zoom) 6x bis 50x Vorsatzlinsen 0,4x und 1,6x

Digitalmikroskop

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Digitalmikroskop

Hersteller:  Keyence  Modell:  VHX6000

Auflicht, Durchlicht

Zoom-Optiken mit Vergrößerungen von 5x bis 1000x (bezogen auf einen 15" Bildschirm)

Tiefenscharfe Bilderfassung, Panoramabilder, 3D Bildzusammensetzungen,

diverse Messfunktionen: Profil, Rauheit, ...

Nikon Messmikroskop

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Nikon Messmikroskop

Hersteller:  Nikon  Modell:  Measurescope MM-22

Beschreibung:  Messmikroskop mit Auf- und Durchlichtbeleuchtung und motorisch angetriebenem X/Y-Koordinatentisch

Verwendungszweck:  Optische, berührungslose Längenmessung

Technische Daten:  Vergrößerung 50x
Zustellgenauigkeit Koordinatentisch 1µm

Rasterkraftmikroskop

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Rasterkraftmikroskop

Das ATOMIC FORCE MICROSCOPE XE7 von Parks verfügt über alle hochmodernen Technologien und dennoch einfache Geräte, die für die Untersuchung morphologischer, topografischer, elektrischer, magnetischer und nanomechanischer Eigenschaften der Materialien verwendet werden. Die flachen, orthogonalen und linearen Scan-Messungen sowie das einzigartige Design des XE7, das separate XY- und Z-Scanner umfasst, helfen beim Erhalten hochauflösender Probenbilder und der charakteristischen Messungen, die seiner Nanostruktur entsprechen.

Das XE7 befindet sich im Hauptgebäude der TU Wien im Interfakultären Labor für Mikro- und Nanomechanik biologischer und biomimetischer Materialien.

Technische Spezifikation

  • XY-Scanner: Biegungs-XY-Scanner mit Einzelmodul und geschlossenem Regelkreis
  • Z-Scanner: Geführter Z-Scanner mit hoher Kraft
  • Probendurchmesser: Bis zu 100 mm
  • Dicke: Bis zu 20 mm
  • AFM-Modi: True Non-Contact AFM, Basic Contact AFM, Lateral Force Microscopy (LFM), Phase Imaging und Intermittent (Tapping) AFM

Hersteller:  Zeiss  Modell:  Stemi 2000-C

Beschreibung:  Stereomikroskop

Verwendungszweck:  Stereomikroskkopische Betrachtung von Oberflächen

Technische Daten:  Vergrößerung: 10x bis 50x

Hersteller:  Bruker  Modell:  Hyperion 1000

Beschreibung:  Basis-Infraror-Mikroskop mit Transmissions- und Reflexionsmodi sowie transparenter Schneidenblende

Verwendungszweck:  Probencharakterisierung, Produktkontrolle und -entwicklung

Technische Daten:  siehe Herstellerangaben

Das LSM 800 ist ein konfokales Laser-Scanning-Mikroskop von Zeiss auf Basis eines inversen Observer Z1. Die invertierte Konfiguration ist für die Bildgebung sowohl lebender Zellen als auch fixierter Proben ausgelegt. Das am IMST erhältliche Gerät ist mit einem Inkubator zur Temperatur- und CO2-Kontrolle ausgestattet. Es ist in der Lage, mehrdimensionale Experimente durchzuführen, darunter Mehrkanalerfassung, Z-Stapel, Kachelscannen und Zeitraffer. Unser LSM800 ist mit 4 Laserlinien sowie Detektoren für Fluoreszenzsignale und Durchlicht-DIC ausgestattet. Für spezialisierte Experimente kann ein Airyscan GaAsP-Detektor verwendet werden, um die räumliche Auflösung und das Signal-Rausch-Verhältnis zu verbessern.

Technische Spezifikation

  • Detektoren: Zwei GaASP-Detektoren, Airyscan
  • Laserlinien: 405, 488, 561, 633 nm.
  • Objektive: 2,5x, 10x, 40x (Wasser)