© Tiss: Michael Waltl

Univ.Prof. Dipl.-Ing. Dr.techn. Michael Waltl wurde mit Wirksamkeit vom 1.3.2024 zum Universitätsprofessor für Robuste Mikroelektronik an der Technischen Universität Wien bestellt. Er ist dem Institut für Mikroelektronik, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster (E360) an der Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik der TU Wien zugeordnet.

Michael Waltl stammt aus Oberösterreich. Er studierte Elektrotechnik an der TU Wien (mit Auszeichnung) und promovierte ebendort im Jahr 2016 mit seiner Dissertation (summa cum laude) zum Thema "Experimental characterization of bias temperature instabilities in modern transistor technologies, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster". Anschließend blieb er der TU Wien zuerst als Senior Scientist, später als Associate Prof. verbunden. Neben zahlreichen FFG sowie direkt von der Industrie finanzierten Projekten konnte er 2018 das CD-Labor für Einzeldefektspektroskopie in Halbleiterbauelementen, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster mit den Industriepartnern wie ams OSRAM AG, Global TCAD Solutions GmbH und Infineon Technologies Austria AG einwerben. Michael Waltl ist Teil des Management Komitees von renommierten internationalen IEEE Konferenzen wie der IIRW, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster (International Integrated Reliability Workshop) und ist im technischen Programmkomitee der IEDM, IRPS, ESSDERC und ESREF tätig. Er ist zudem Associate Editor des Microelectronics Engineering Journals.

Die wissenschaftliche Heimat von Michael Waltl ist das genannte Institut, wo er sich aktuell mit Forschungsfragen rund um die Robustheit elektronischer Bauelemente und Schaltungen beschäftigt

Publikation von Michael Waltl in den Datenbanken Scopus, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster und im ReposiTUm, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster. 

[Website Michael Waltl, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster]