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Fritz Grasenick Preis 2007 an TU-Werkstoffwissenschafter

Dr. Fernando A. Lasagni vom Institut für Werkstoffwissenschaft und Werkstofftechnologie der TU Wien erhält den Fritz Grasenick Preis 2007 der österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie

Dr. Fernando Lasagni und Univ.Prof.Dr. Margit Pavelka im Physikal. Institut der Uni Wien.

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Dr. Fernando Lasagni und Univ.Prof.Dr. Margit Pavelka im Physikal. Institut der Uni Wien.

Dr. Fernando Lasagni und Univ.Prof.Dr. Margit Pavelka im Physikal. Institut der Uni Wien.

Dr. Fernando Lasagni und Univ.Prof.Dr. Margit Pavelka im Physikal. Institut der Uni Wien.

2D und 3D rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen eines "chinese script" Mg2Si –Teilchens in einer Aluminiumlegierung.

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2D und 3D rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen eines "chinese script" Mg2Si –Teilchens in einer Aluminiumlegierung.

2D und 3D rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen eines "chinese script" Mg2Si –Teilchens in einer Aluminiumlegierung.

2D und 3D rasterelektronenmikroskopische Aufnahmen eines "chinese script" Mg2Si –Teilchens in einer Aluminiumlegierung.

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Der Fritz Grasenick Preis 2007 der österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (http://www.univie.ac.at/asem) wurde für materialwissenschaftliche Publikationen am 23.11.2007 im Hörsaal des Physikalischen Institutes der Universität Wien an Dr. Fernando A. Lasagni vom Institut für Werkstoffwissenschaft und Werkstofftechnologie der TU Wien von der Vorsitzenden Frau Univ.Prof.Dr.Margit Pavelka übergeben.

Fernando Lasagni hat im Rahmen seiner Doktorarbeit am Institut für Werkstoffwissenschaft und Werkstofftechnologie der Fakultät für Maschinenwesen und Betriebswissenschaften mit seinem Bruder Dr. A. Lasagni an der Universität des Saarlandes eine dreidimensionale Abbildung von Heterogenitäten in Metallen entwickelt, deren Phasen im gleichen Bild mittels energiedispersiver Analyse identifiziert werden.

Dies wurde für eutektisches Silizium, Magnesiumsilizide und Eisenaluminde in Aluminiumlegierungen mittels Focussed Ion Beam (FIB) schichtweiser Abtragung im Rasterelektronenmikroskop (SEM) gezeigt. Die örtliche Auflösung wurde unter 100 nm vorangetrieben. Die dreidimensionale Gefügebeschreibung von Werkstoffen, insbesonders der örtliche Zusammenhang der Phasen, wurde zu einem neuen Forschungsgebiet, das vom Submikrometerbereich bis zum Millimeterbereich am Institut für Werkstoffwissenschaft und Werkstofftechnologie betrieben wird, indem auch Röntgen-Computer-Tomographie und Synchrotron Tomographie genutzt werden.

Im Elektronenmikrokopie-Zentrum der TU Wien (USTEM) wird derzeit eine FIB/SEM-Anlage in Betrieb genommen, sodass im nächsten Jahr die von den Lasagni-Zwillingen entwickelte Methode auch an der TU-Wien zur "Nano-Tomographie" eingesetzt werden kann.

F. Lasagni, A. Lasagni, E. Marks, C. Holzapfel, F. Mücklich, H.P. Degischer: “3-dim. characterization of ‘as-cast’ and solution-treated AlSi12(Sr) alloys by high-resolution FIB tomography”, Acta Mat.55 (2007) S.3875–3882

F. Lasagni, A. Lasagni, C. Holzapfel, F. Mücklich, H.P. Degischer: "Three Dimensional Characterization of Un-modified and Sr-Modified Al-Si Eutectics by FIB & FIB EDX Tomography"; Adv.Eng.Mat., 8 (2006); S 719-723.