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CD-Laboreröffnung mit Patenschaften für das TOF-SIMS-Gerät

Vergangenen Freitag eröffnete Laborleiter Herbert Hutter im Beisein zahlreicher Mitglieder des Senats der Christian Doppler Gesellschaft das CD-Labor für Oberflächen- und Grenzflächenanalytik mit TOF-SIMS. Am gleichen Tag fand auch die Einweihung des neuen Analysengerätes statt.

(v.l.n.r.): Vorsitzender des Senats der CDG, Prof. Hartmut Kahlert, TU Graz, Präsident der CDG, Prof. Reinhart Kögerler, Universität Bielefeld, Rektor der Akademie der Bildenden Künste Wien, Dr. Stephan Schmidt-Wulffen, Rektor der Monatanuniversität Leoben, Prof. Wolfhard Wegscheider, Dekan der Fakultät für Technische Chemie, Prof. Johannes Fröhlich, Frau Ministralrätin Dr. Evelin Nowotny, Bundesmisterium für Wissenschaft und  Forschung, Rektor der TU Wien, Prof. Peter Skalicky, Prof. Benninghofen, Universität Münster - ION-TOF Gmbh., Prof. Herbert Hutter, Institut für Chemische Technologie und Analytik

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(v.l.n.r.): Vorsitzender des Senats der CDG, Prof. Hartmut Kahlert, TU Graz, Präsident der CDG, Prof. Reinhart Kögerler, Universität Bielefeld, Rektor der Akademie der Bildenden Künste Wien, Dr. Stephan Schmidt-Wulffen, Rektor der Monatanuniversität Leoben, Prof. Wolfhard Wegscheider, Dekan der Fakultät für Technische Chemie, Prof. Johannes Fröhlich, Frau Ministralrätin Dr. Evelin Nowotny, Bundesmisterium für Wissenschaft und Forschung, Rektor der TU Wien, Prof. Peter Skalicky, Prof. Benninghofen, Universität Münster - ION-TOF Gmbh., Prof. Herbert Hutter, Institut für Chemische Technologien und Analytik

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Gäste der Laboreröffnung

Es gab guten Grund zur Freude, als sich letzten Freitag zahlreiche Vertreter und ForscherInnen der TU Wien, des BMWF und der Industrie sowie hochrangige Repräsentanten anderer österreichischer Universitäten, darunter die Rektoren der Montanuniversität Leoben und der Akademie der Bildenden Künste, zur Eröffnung des Christian Doppler Labors am Getreidemarkt einfanden.

Wie wichtig es sei auf neue Technologien zu setzen um konkurrenzfähig zu bleiben, betonte Rektor Skalicky in der Einleitung. Gefolgt von Begrüßungsworten durch den Vizerektor für Forschung Rammerstorfer, den Präsidenten der CDG Reinhart Kögerler von der Universität Bielefeld, den CDG-Senatsvorsitzenden Hartmut Kahlert und den Manager des Firmenpartners AT&S Mark Beefley, freute sich Dekan Fröhlich besonders, dass sich die Mühen im Vorfeld der Anschaffung des 800.000 Euro teuren TOF-SIMS-Analysengerätes gelohnt hatten und ein CD-Labor zustande gekommen sei.

Im Anschluss daran folgte ein Fachvortrag von Professor Alfred Benninghoven, der die Sekundärionen-Massenspektrometrie entwickelte. Das nagelneue TOF-SIMS-Analysengerät selbst wurde ebenfalls am Freitag offiziell eingeweiht und mit Patenschaften betraut.