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27. Mai 2011, 15:00 bis 00:00

Dr. Birgit Hagenhoff: "Unter der chemischen Lupe: Oberflächenmassenspektrometrie"

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Dr. Birgit Hagenhoff
TASCON GmbH, Münster, Deutschland Abstract: Oberflächen und Grenzflächen spielen in der technologischen Entwicklung eine immer größer werdende Rolle. Nicht selten werden die Eigenschaften von entsprechenden Materialien „maßgeschneidert“. Um die Entwicklung solcher Materialien zu begleiten, aber auch um Problemen bei Produktion und in der Qualitätssicherung zu begegnen, ist eine analytische Technik notwendig, die sowohl Elemente als auch Moleküle an Oberflächen und Grenzflächen empfindlich nachweisen kann. Die Oberflächenmassenspektrometrie (technische Bezeichung Time- of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, ToF-SIMS) ist solch eine Methode. Die Technik kann sowohl bildgebend (Lateralauflösung 100 nm) als auch zur Aufklärung von Tiefenverteilungen (Tiefenauflösung 1 nm) genutzt werden. Der Vortrag erläutert die physikalischen Grundlagen, die Gerätetechnik und stellt anhand von Fallstudien die wesentlichen Anwendungsbereiche vor.

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