Veranstaltungen

15. Februar 2010, 14:00 bis 00:00

Eröffnung des Christian Doppler Labors für Zuverlässigkeitsprobleme in der Mikroelektronik

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Im Jänner 2010,wurde am Institut für Mikroelektronik das Christian Doppler Labor für Zuverlässigkeitsprobleme in der Mikroelektronik (Christian Doppler Laboratory for
Reliability Issues in Microelectronics) eingerichtet.
Unterstützt durch Mittel der Christian Doppler Forschungsgesellschaft und der Firmen austriamicrosystems AG und Infineon Technologies AG werden in diesem Forschungsprojekt die Modelle für Degradationsmechanismen in mikroelektronischen Bauelementen entwickelt.
Anmeldungen bitte an: winkler@iue.tuwien.ac.at

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Anmeldung erforderlich

Ja