Informationen zu Expertise, Publikationen & Lehre

Expertise

Oberflächenanalytik mittels Rastersondenmikroskopie (AFM, STM) und Elektronenmikroskopie/Elektronenstrahlmikroanalyse (REM/EDX) auf verschiedenen Anwendungsgebieten (Werkstoffe, biologische Proben, Nanopartikel, Umweltproben, Medizin, …).

Publikationen

Eine Übersicht meiner Publikationen finden Sie im CatalogPlus (TU Wien Bibliothek), öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster

Lehre

Die aktuellen Lehrveranstaltungen finden Sie auf TISS, öffnet eine externe URL in einem neuen Fenster (TU Wien).