ThermoFisher Scios II

Foto der ThermoFisher Scios FIB
Spezifikationen
  • chemische Nanoanalyse (100 µm - 10 nm)
  • Structuranalyse mit nm Auflösung
  • 3D Tomographie für Life Sciences
  • Zielprepäration für TEM mit nm Präzission
  • 3D in-situ Analyse von Defekten oder Regionen von Interesse in Metallen, Halbleitern und Keramiken
  • Präparation und Analyse von porösen Materialien
  • Präparation und Analyse von Proben bei niederen Temperaturen (cryo-stage)
  • Probenpräparation, -charakterisierung und -analyse bei Drücken bis zu 2600 Pa
  • Aufladunsgfreie Abbildung von Isolatoren unter Niedervakuum (bis 130 Pa)
  • Defektreparatur in Halbleiterdesign
  • Nanomachining
  • scripting für Automatisierung der FIB

Geräteverantwortlicher

Portrait von Andreas Steiger-Thirsfeld