USTEM Mitarbeiter im Probenpräparationslabor

© Klaus Ranger

Auftragsforschung

Expertise und Infrastruktur von USTEM stehen Forschungseinrichtungen, Unternehmen und privaten Kunden zur Umsetzung von Forschungs- und Entwicklungsarbeiten, zur Qualitätskontrolle oder Schadensanalyse zu marktüblichen Bedingungen zur Verfügung. Problemorientiertes und rasches Arbeiten eines hochmotivierten und erfahrenen Teams sichern Erfolg und Wettbewerbsvorteile.

Mit Transmissionselektronenmikroskopie (TEM), Rasterelektronenmikroskopie (SEM), konfokaler Mikroskopie und Focused Ion Beam (FIB) bietet USTEM eine breite Dienstleistungspalette im Bereich der strukturellen und chemischen Mikroanalyse an.

Unsere Angebotspalette:

  • Abbildende Verfahren für die Darstellung der zu untersuchenden Proben bis zu über 1.000.000-facher Vergrößerung.
  • Chemische Charakterisierung mittels Energiedispersiver Röntgenanalyse (EDX), Energiegefiltertem TEM (EFTEM) und Elektronen-Energieverlustspektrometrie (EELS) mit einer Ortsauflösung von bis zu 1 nm.
  • Strukturuntersuchungen mittels Elektronenbeugung, konvergenter Elektronenbeugung (CBED), Beugung von rückgestreuten Elektronen (EBSD), Hochauflösungsmikroskopie (HRTEM) und hochauflösender Rastertransmissionsmikroskopie (HRSTEM).
  • Charakterisierung der elektronischen Struktur mittels Elektronen-Energieverlustspektrometrie (EELS-ELNES) und Simulationsrechnungen.
  • Charakterisierung optischer Eigenschaften mittels Valenzelektronenspektrometrie (VEELS).
  • Charakterisierung magnetischer Eigenschaften mittels Energy Loss Magnetic Chiral Dichroism (EMCD) mit einer Ortsauflösung von 2 nm.
  • Lichtmikroskopie
  • Präparation von TEM Proben mittels klassischer Präparationstechniken (Schleifen, Polieren, Ionendünnen), elektrochemischer Präparation, ultramikrotomischer Dünnschnitte, FIB TEM-Lamellen Präparation.

Bei Interesse nehmen Sie bitte Kontakt mit dem USTEM Team auf.

Kontakt

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Administration

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Angelika Grossmann

01 58801 45209