Forscherin am Elektronenmikroskop

Geräteausstattung

Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

Feldemissions-TEM mit EDX, EELS, HAADF, CL 
Betriebsspannungen: 60 kV, 200 kV

LaB6-TEM mit EDX, EELS, STEM, CL
Betriebsspannungen: 6-100 kV, 120 kV, 200 kV

Rasterelektronenmikroskope (SEM)

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EDX, EBSD, STEM, TKD, environmental mode, NavCam

Focused Ion Beam (FIB)

FIB mit EDX, EBSD, cryo-stage, Kleindiek NanoManipulator

Feldemissions-SEM und FIB für präziese und schnelle TEM-Probenpräparation und nano-factoring