MAXI – 2D-RFA-Spektrometer mit mm-Auflösung

Das MAXI XRF-Spektrometer wurde für 2-dimensionale Scans mit mm-Auflösung auf jeder flachen Oberfläche (fest oder flüssig) entwickelt, um Elementverteilungskarten zu erhalten. Ein Beispielbild einer Seigerungskarte aus einem Edelstahlquerschnitt ist unten abgebildet und visualisiert perfekt das Elementdiffusionsverhalten während des Gießens.

Dieses kompakte XRF-System besteht aus einer peltiergekühlten Röntgenröhre mit geringer Leistung und einem Siliziumdriftdetektor in Kombination mit einer Kamera und zwei Laserpointern, wobei alle Achsen perfekt ausgerichtet sind, um auf denselben Punkt zu fokussieren, wodurch eine kontinuierliche Überwachung und Dokumentation ermöglicht wird Fähigkeiten aller Messungen auf dem Ziel. Da Röntgenstrahlen nicht im sichtbaren Spektrum liegen, sind die Laserpointer eine einfache Möglichkeit, den aktuellen Punkt zu markieren, und überlappen sich, wenn sie fokussiert werden.

Das System ist für den Betrieb an Luft ausgelegt, kann aber mit Stickstoff gespült werden, um die Absorption zu minimieren. Darüber hinaus wird ein speziell entwickeltes Computerprogramm für automatisierte Messungen verwendet.

2D-RFA-Spektrometer mit mm-Auflösung

© Atominstitut

2D XRF spectrometer with mm resolution

© Atominstitut

2D XRF spectrometer with mm resolution

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