Welcome to our Wonderland
Was verbirgt sich auf einer Oberfläche, wenn man nur genau genug hinsieht? In unserem Labor nehmen wir Materialien mit hochmodernen Analysegeräten unter die Lupe und entdecken eine Welt, die normalerweise unsichtbar bleibt.
Mit Techniken wie TOF-SIMS und XPS verfolgen wir die Spuren einzelner Elemente und Moleküle und erkunden die chemische Landschaft von Materialien. So entstehen faszinierende Einblicke in die Welt der Atome, Nanostrukturen und dünnen Schichten. Eine Reise, die manchmal fast an ein Wunderland erinnert.
Wir sind stolz, euch unsere Geräte (Hänsel, Gretel und Biest) aus dem ELSA-Labor zu präsentieren.
Nicht alle Geheimnisse liegen tief verborgen. Manche befinden sich direkt an der Oberfläche. Mit AMES (Auger Meitner Electron Spectroscopy) untersuchen wir die äußersten Atomlagen eines Materials und gewinnen Einblicke in seine chemische Zusammensetzung und Struktur.
Wie ein Blick durch den Spiegel eröffnet XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) den Zugang zu einer Welt, die dem Auge verborgen bleibt. Durch die Analyse von Photoelektronen können wir die chemische Zusammensetzung und Bindungszustände an der Oberfläche eines Materials sichtbar machen und so die Geschichten entdecken, die sich in den obersten Schichten verbergen.
TOF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) eröffnet einen Blick auf die chemische Welt einer Oberfläche. Dabei wird die Probe mit einem Ionenstrahl beschossen, wodurch Atome und Molekülfragmente aus den obersten Materialschichten herausgelöst werden.
Diese Teilchen werden anschließend nach ihrer Flugzeit durch das Instrument analysiert. Da leichte und schwere Ionen unterschiedlich lange für ihren Weg benötigen, lässt sich ihre Masse bestimmen und damit ihre chemische Identität entschlüsseln.
Auf diese Weise können nicht nur Elemente, sondern auch komplexe Moleküle sichtbar gemacht werden. TOF-SIMS eignet sich daher besonders für die Untersuchung von dünnen Schichten, Verunreinigungen, organischen Materialien und Nanostrukturen.