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Neues Rasterelektronenmikroskop am IAP in Betrieb genommen

Seit Anfang November unterstützt ein hochmodernes Rasterelektronenmikroskop des Typs Zeiss Sigma HD-VP die Forschung am Institut für Angewandte Physik. Drei Forschungsbereiche teilen sich das neue Gerät.

Aufnahme des Zeiss Sigma HD-VP Rasterelektronenmikroskops im Elektronenmikroskopielabor des IAP. Das Bild zeigt das Gerät sowie die angeschlossenen Steuerungsmonitore zur Bildgebung und Analyse.

© Gyula Nagy

Zeiss Sigma HD-VP Rasterelektronenmikroskop

Das neue Zeiss Sigma HD-VP Rasterelektronenmikroskop im Labor des Instituts für Angewandte Physik

Am 7. November 2025 wurde am Institut für Angewandte Physik ein neues Rasterelektronenmikroskop (REM) des Typs Zeiss Sigma HD-VP in Betrieb genommen. Das Gerät wird von den drei Forschungsbereichen “Atomic and Plasma Physics”, “Applied Interface Physics” und “Physics of Three-dimensional Nanomaterials” gemeinsam genutzt.

Das neue Mikroskop ist mit mehreren Detektoren ausgestattet, die hochauflösende Bildgebung durch Sekundärelektronen (SEM), Rückstreuelektronen, Röntgenstrahlung (EDX) sowie Elektronenbeugung (EBSD) ermöglichen.

Eines der wichtigen Einsatzgebiete wird die Fusionsforschung sein, da das REM eine detaillierte morphologische und elementare Analyse von Materialoberflächen erlaubt – sowohl vor als auch nach der Ionenbestrahlung.

Wir freuen uns über diese wichtige Erweiterung der Infrastruktur – und auf viele spannende Ergebnisse, die mit dem neuen REM ermöglicht werden!